株式会社アムテックス

Aurigaの第4世代パルスIV / RF特性評価システムは比類のない性能を発揮し、驚異的な速度と精度で測定を捕捉します。
電界効果（FET）およびバイポーラ接合（BJT）トランジスタなどのアクティブデバイスの電流電圧特性を捕捉する好ましい方法として、パルスIV（電流 - 電圧）測定が浮上しています。
GaN HEMT、LDMOS、SiC、およびグラフェンのような高出力デバイスの普及に伴い、電流および電圧の要求が常に高くなっています。

高電圧トランジスタ特性評価用パルサーヘッド：PHD3100(1200V)

AU4850 パルスIV/RF特性評価システムには、2つの外部および交換可能なパルサーヘッドが付属しています。
これらの互換性により、このシステムはさまざまなパルス電圧と電流範囲を提供し、ダイナミックレンジで最大の分解能を提供します。
外部ヘッドにより、パルサー回路を被試験デバイス（DUT）の近くに配置することができ、伝送線路の影響による信号の劣化を最小限に抑えます。
外部ヘッドにより、AU4850はDUTから約6フィート離れて配置されます。AU4850 は、4つの外部電源を供給されます。
これらの電源は、ゲート (またはベース) とドレイン (またはコレクタ) の両方の静止および非静止電圧を提供し、より広い範囲の測定方法を可能にします。
品質の一貫性を維持し、視覚的な審美性を維持するために、新しいグラフィカルインターフェイスを開発しました。
新しいアドバンストウィンドウオプションにより、測定アプリケーションの動作をカスタマイズしたり、さまざまなテスト条件のデバイス性能を詳細に把握することができます。