AARTS RF-HTOL
AARTS RF-HTOL
- 主な製品特徴
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- 2ベイラックで最大16の独立制御チャンネルを含む、さまざまなチャンネル容量をサポート。
- 革新的なテストフィクスチャを採用し、最大mmWave周波数と最大300℃のデバイスベースプレート温度で動作し、24種類を超える市販のパッケージタイプをサポートします。
- 高いRF駆動レベル能力(チャンネルあたり最大50W)
- 小型デバイス（GaAs HBT、SiGe）向けの高解像度/低電力電源から、高電力RFデバイス（GaN、LDMOS）向けのチャンネルあたり400Wまで、さまざまなDCバイアス電源オプション。
- アプリケーション固有のテスト用にさまざまな変調タイプをサポート（パルスDC/RF、WCDMA）。半導体パラメータアナライザなどの外部特性評価機器の統合をサポート。
- カテゴリー
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- RF、ミリ波、テラヘルツ
- 計測機器
- Accel-RF
- AARTS RF-HTOL
- データシート
- AARTS Automated Accelerated Reliability Test Systems AARTS Characterization Smart Fixture Automated Multi-Channel RF-Biased Burn-In Test System mm-Wave Automated Accelerated Reliability Test Systems Power-Switching Dynamic Test System for Device Reliability and Performance Characterization RF Test Characterization Platform Description
RF自動加速信頼性テストステーション(AARTS)システムは信頼性とパフォーマンスの低下を評価するために、RF、DC、および熱刺激でデバイスにストレスをかけるように設計されています。このシステムは最初からRF刺激を含めるように設計されており、後から追加されたものではありません。このターンキーテストシステムには、独立して制御される多数のテスト位置を制御するために使用される完全に統合されたソフトウェアとハードウェアが含まれています。業界標準のLifeTestソフトウェアを使用すると、テストデバイスの正確な測定と監視を完全に自動化できます。さまざまな周波数範囲、電力レベル、および変調タイプがサポートされています。
- オプションとアクセサリ
・8チャンネルおよび16チャンネルの標準容量
・周波数帯域オプション
500MHz～3GHz
1GHz～4GHz
1GHz～12GHz
2GHz～18GHz
26GHz～40GHz
その他のmmWaveバンドもサポート
・ソリッドステートパワーアンプ（SSPA）オプション
1W～50WのRF駆動レベル
・デバイスの温度と冷却オプション
高出力デバイステスト用150°C
ベースプレート最高温度300°C
・バイアス用品
高い測定分解能を実現するチャンネルあたり10W
チャンネルあたり60W（標準）
チャンネルあたり200W
チャンネルあたり400W
・統合パルス生成
DCバイアスパルス
RFパルス
・半導体パラメータアナライザ（SPA）の統合
・被試験デバイスの入出力回路
カスタムインピーダンスマッチング回路
ワイドバンドバイアスティー
50Ω MMIC回路
- 製品紹介ビデオ
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Training Overview: Accel-RF Reliability Testing Systems