Hi-Q レーザーRINアナライザー（OE4001）
Hi-Q レーザーRINアナライザー（OE4001）
- 主な製品特徴
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- 超低相対強度ノイズ測定
- 高速リアルタイム測定
- ユーザーフレンドリーなインターフェース
- シンプルなPCベース操作
- 3U x 19インチラックシステム
- カテゴリー
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- RF、ミリ波、テラヘルツ
- 計測機器
- OEwaves
- Hi-Q レーザーRINアナライザー（OE4001）
OEwavesのHI-Q® OE4001光学テスト測定システム（TMS）は、超低RIN（相対強度ノイズ）CWレーザー光源の完全自動測定を提供します。
HI-Q® RINアナライザーは、複雑なセットアップなしに、相対強度ノイズスペクトルを自動的かつ迅速に測定することができます。
このシステムは広帯域測定においてユニークです。システム一式は、専用PC上のシンプルなグラフィックユーザーインターフェースを介して、簡単、高速、高精度に動作します。追加のテスト機器は必要ありません。比類のない超低相対強度ノイズアナライザーは、様々な入力波長帯域に拡張可能で、複数の周波数レンジオプションが用意されています。製造・研究環境に最適なシステムです。
製品ラインナップ
Hi-Q Laser RIN Analyzer
| Model | Ultra-low total RIN floor | Optical input power range | Offset frequency range | Measurement type | Operating temperature range | Power | Size |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| OE4001 | -161dBc/Hz and -166dBc/Hz for excess RIN option |
+5 to +15dBm (SM-FC/APC) |
0.1 - 18GHz 27GHz 40GHz 54GHz 67GHz 85GHz 110GHz (1Hz - 100MHz available in OE4000) |
Laser relative intensity noise (RIN) | 15 to 35℃ | 110/120 or 220/240Vac; 50/60Hz | 3U x 19 or larger depending on options |
- 製品紹介ビデオ
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Product Intro: OE4001 Optical RIN Test System (ORTS)