Hi-Q RFテスト＆測定システム（OE8000）
Hi-Q RFテスト＆測定システム（OE8000）
- 主な製品特徴
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- 超低絶対位相ノイズ/ジッター測定機能
- 高速なリアルタイム測定
- 完全自動化
- 相互相関ホモダイン機能
- 低ノイズ基準源は不要です
- ユーザーフレンドリーなインターフェース
- シンプルなPCベースの操作
- 6U x 19インチラックシステム
- カテゴリー
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- RF、ミリ波、テラヘルツ
- 計測機器
- OEwaves
- Hi-Q RFテスト＆測定システム（OE8000）
広範囲の周波数におけるRFおよびマイクロ波信号源の位相雑音スペクトル密度を測定するための、高速かつ完全自動化されたソリューション。
OEwaves社のHI-Q® RFテスト測定システム（TMS）は、広範囲の周波数帯域におけるRFおよびマイクロ波信号源の位相雑音スペクトル密度を高速かつ完全に自動化された方法で測定するソリューションです。従来のヘテロダイン方式とは異なり、このホモダイン方式では、別途低雑音基準信号源やダウンコンバータを用意する必要がありません。ノートPC上の直感的なグラフィカルユーザーインターフェースを介して操作することで、広帯域の高精度測定を容易に行うことができます。
OEwaves社のHI-Q® Wバンド位相ノイズアナライザは、 マイクロ波フォトニクス技術を用いて、超低位相ノイズのWバンド発振器の自動測定を実現します。詳細はこちらをご覧ください。
- オプション構成
・デュアルチャネル相互相関測定
・拡張入力およびオフセット周波数範囲の測定
・2ポート残留位相ノイズ測定
・AMノイズ測定
・入力電力範囲の拡張
・光入力
・性能レベルと周波数範囲のオプションおよびアップグレード
製品ラインナップ
OE8000
| Model | RMS timing jitter sensitivity | Input power range | Spurious | Resolution bandwidth |
|---|---|---|---|---|
| OE8000 | 5fs(0.01 - 10MHz) | +5 to + 15 dBm | -50dBc @ <1kHz offset -80dBc @ >1kHz offset |
0.0001 - 200kHz |