● フォーカス製品セミナー（アメリカ）
IEEE MTT2010 IMS2010 （アナハイム、カルフォルニア）にて、フォーカスマイクロウエーブ社によるセミナー開催致します。
現地時刻 5月26日（水） 午後6時から午後9時頃まで
講演内容（予定）
VNAを使った雑音指数測定
非線形（ノンリニア）デバイス測定（NVNAによる）
チューナー新製品紹介と測定方法案内
非線形トランジスタモデリングと検証
現地アナハイム、展示会会場周辺での開催を予定しております。
ご希望の方は、弊社までお問い合わせください。（無料・事前登録制）
講演内容（予定）
VNAを使った雑音指数測定
非線形（ノンリニア）デバイス測定（NVNAによる）
チューナー新製品紹介と測定方法案内
非線形トランジスタモデリングと検証
現地アナハイム、展示会会場周辺での開催を予定しております。
ご希望の方は、弊社までお問い合わせください。（無料・事前登録制）